格蘭達自主研發設備亮相17屆高交會 2015-11-21
格蘭達自主研發設備亮相17屆高交會
IC芯片檢測機和全自動光檢機獲行業首肯
本報訊 11月16日至21日，第十七屆中國國際高新技術成果交易會在深圳會展中心隆重舉行，我公司自主研發生產的IC芯片分選檢測機及GIS126全自動三次光學檢測機分別在高交會 1號館及5號館精彩亮相，吸引了不少參觀者及專業人士駐足觀看。
本屆高交會有展區、會議及論壇、活動、高新技術人才與智力交流會、不落幕的交易會等五大部分內容，以“創新創業 跨界融合”為主題，主要展現中國自主創新的最新成果。格蘭達的IC芯片分選檢測機是一款高端測試設備，有極大的市場潛力和需求市場；GIS126全自動三次光學檢測機采用高倍視覺系統，對相關產品的表面缺陷可實現全自動的視覺光學檢測，技術達到了行業較高水平。我公司參展的兩臺設備獲得行業青睞，使格蘭達品牌在半導體行業得以進一步推廣。 （王敏）
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