最新自主創(chuàng)新成果亮相SEMICON China 我公司研發(fā)產(chǎn)品再獲殊榮 2013-04-07
最新自主創(chuàng)新成果亮相SEMICON China
我公司研發(fā)產(chǎn)品再獲殊榮
本報訊 3月19日至21日，第25屆國際半導(dǎo)體展SEMICON China 2013在上海新國際博覽中心舉行，此次我公司展示的高端設(shè)備GIS129卷帶自動光學(xué)檢測機和GIS160切筋分選機，凸顯了我公司的創(chuàng)新技術(shù)，令業(yè)界耳目一新。
我公司已連續(xù)參展8屆SEMICON China。此次參展的GIS129是一款專門針對編帶熱封后對其缺陷進行全自動光學(xué)檢測的高端自動化設(shè)備，而GIS160則適用于半導(dǎo)體封裝工藝中塑封與切筋成型工序之間的IC次品切除。這兩款設(shè)備自推向市場以來，以其精巧的設(shè)計、優(yōu)化的結(jié)構(gòu)及穩(wěn)定的性能贏得了眾多客戶的好評，并開始進入國內(nèi)及世界著名半導(dǎo)體封測企業(yè)。
又訊3月28日，“第七屆（2012年度）中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)項目”頒獎典禮在西安舉辦的“2013年中國半導(dǎo)體市場年會暨第二屆集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新大會”上舉行，我公司的GIS126全自動三次光檢機項目榮獲“第七屆（2012年度）中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)”獎。公司副總裁劉寶龍出席頒獎典禮并領(lǐng)取了獎牌和證書。
GIS126全自動三次光檢機是我公司自主研發(fā)、針對半導(dǎo)體前道焊線工藝的檢測設(shè)備，視覺檢測是其最重要的核心技術(shù)。該項目從2011年開始研發(fā)，現(xiàn)已申請了8項專利，其中包括1項發(fā)明專利，目前在國內(nèi)市場還沒有相應(yīng)的產(chǎn)品，屬于發(fā)明創(chuàng)新。（黎蘇）
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