公司參展IC China 2013榮獲優秀參展產品獎 2013-11-13
公司參展IC China 2013榮獲優秀參展產品獎
本報訊 11月13日至15日，第十一屆中國國際半導體博覽會暨第八十二屆中國電子展暨高峰論壇于上海新國際博覽中心隆重開幕。我公司攜最新自主研發的新產品——GIS129卷帶自動光學檢測機和GIS130多功能邏輯電路測試分選機參展，備受業界關注。
本屆展會參展企業超過1,300家，展覽面積約60,000平方米，吸引了中外知名半導體企業參展。在格蘭達展位現場，設備不間斷地模擬生產演示吸引了眾多觀眾。其中GIS130多功能邏輯電路測試分選機因技術領先、做工精細，深受市場高度贊許，展會評審團也專程來到我展位對GIS130多功能邏輯電路測試分選機進行評審，一致通過評審，授予IC China 2013“優秀參展產品獎”。（包小歡）
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